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气相色谱常见故障排查指南2 ——鬼峰、峰展宽、重复性不佳和分叉峰

发布时间:2026-03-12 13:27 新闻来源:仪路质谱技术浏览次数:39

        Q5:鬼峰

 

        典型谱图:

 

 

        鬼峰指色谱图中出现与所测定样品无任何关联的色谱峰,多由系统污染、溶剂杂质或样品污染引入,严重干扰定性定量。

 

现象

原因

应对方法

不进样出现鬼峰

系统污染

采用系统维护技巧,结合分段排查,定位污染部位并清理

进样溶剂空白出现鬼峰

溶剂将残留洗脱

溶剂本身含有杂质

进样瓶或进样针污染

找到残留污染源,并进行维护

更换合格溶剂

采用耗材替换与维护技巧,更换污染的进样瓶、进样针

进样样品出现鬼峰

样品本身含有杂质

样品分解

样品转移过程引入杂质

用标准品验证,排除杂质干扰

了解样品性质,选择合适的实验方法

监控样品转移流程,避免引入杂质

其他情况

隔垫碎屑残留

分流出口捕集阱污染

载气纯度不足

更换衬管,清除隔垫碎屑

更换分流出口捕集阱

更换载气或者使用钢瓶气,提升载气纯度

 

        排查简单思路:

 

        第一步:观察不进样时是否出现鬼峰,初步排查系统本身(如检测器、色谱柱)污染或故障问题

 

        第二步:进溶剂空白进行测试,排查溶剂本身含杂质、进样瓶/进样针污染或系统残留等问题。

 

        第三步:进样品进行测试,排查样品本身含杂质、样品分解或转移过程中引入杂质等问题。

 

 

        Q6:峰展宽

 

        典型谱图:

 

 

        峰展宽指由于流速异常、样品分子扩散等因素,导致色谱峰峰宽在设定色谱条件下异常变宽,影响分离效果和定量精度。

 

部位

原因

应对方法

进样口

手动进样

进样口污染

优先选用自动进样

对进样口进行全面维护

色谱柱

柱效下降

柱流速过低或者升温速率过慢

对色谱柱进行维护,柱效严重下降时更换

调整柱流速和升温程序

检测器

尾吹流量过低

加大尾吹流量,改善峰形

方法

溶剂效应影响

降低初始柱温,并保持2-5min,增强溶剂聚焦,缓解峰展宽

 

        排查简单思路

 

        新方法:优先运行标准品,针对性调节涉及峰展宽的各项关键参数(如进样口操作、柱流速、升温速率、尾吹流量等),逐步优化峰形,减少峰宽异常。

 

        老方法:先检查标准品浓度及进样量是否发生变化,排除样品本身影响;再对进样口、色谱柱、检测器进行维护,结合维护技巧排查并解决故障。

 

 

        Q7:峰面积重复性

 

        典型图谱:

 

 

        峰面积重复性差指色谱分析中,同一化合物的色谱峰峰面积波动较大,不符合定量分析要求,多与样品稳定性、进样系统或流路污染相关。

 

部位

原因

应对方法

样品

样品性质不稳定

称量过程出现误差

样品现配现用;改善储存环境

采用单瓶进样排查,规范称量操作,减少称量误差

进样装置

进样量过低

前处理设备问题

增加进样量或者合适量程的进样针

全面检查前处理设备及其相关耗材,排查故障

进样口

气化条件不合适

活性位点吸附样品

优化进样口温度,选用不同类型衬管

采用惰性耗材,减少样品吸附

色谱柱/样品流路

样品残留

活性位点吸附

对色谱柱和样品流路进行维护

选用惰性耗材

 

        排查简单思路

 

        顶空、阀、CTC+气相组合:重现性不佳时,采用分段排查技巧,逐一定位顶空、阀、气相各环节故障。

 

        直接液体进样+气相组合:先用标准品测试,排查进样系统和色谱条件问题。

 

        所有峰面积重现性差:优先进行系统全面维护。

 

        单个色谱峰重现性差:重点考察该组分的实验参数和样品稳定性。

 

 

        Q8:分叉峰

 

        典型谱图:

 

 

        分叉峰指色谱峰未呈现单一正态分布的高斯曲线,峰尖处出现分叉,多由样品过载、色谱柱污染或进样操作不当导致。

 

部位

原因

应对方法

样品

样品过载

含同分异构体

溶剂为混合溶剂

减少进样量,采用减量技巧

充分了解样品性质

选用单一互溶溶剂

进样系统

手动进样手法不当

进样口温度过高,样品分解

优先选用自动进样,规范手动进样手法

降低进样口温度,避免样品分解

色谱柱

混合物未有效分离

色谱柱污染

色谱柱切割不规范

调整实验方法,优化分离条件

对色谱柱进行维护

按照标准方法切割和安装色谱柱

 

        排查简单思路

 

        新方法:先运行标准品,针对影响分叉峰的各项参数(进样量、柱温、色谱柱安装等)逐步调节。

 

        老方法:单峰分叉时,配置单标进行测试,排查样品或单一组分分离问题;所有峰分叉时,优先进行系统维护,结合耗材替换技巧排查。

 

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